130A-日本东京精密,日本东京精密130A粗糙度仪,日本东京精密粗糙度仪-成都恒通兴业科技有限责任公司手机版

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恒通兴业公司专业为您* 日本东京精密日本东京精密130A粗糙度仪

产品描述：

操作简单，不需要操作手册可选择的“放大器”液晶触摸屏

备有大画面TFT彩色和便宜的的黑白液晶。

便于携带的小尺寸

可在在现场环境下使用。

分析参数与海外规格对应

可任意选择JIS ISO DIN ASME CNOMO等规格

具有CE标志的安全设计

zui高等zui高等到直线度精度0.3mm/50mm!!

仅显示必要的图标

采用个性化功能，可以只选择使用频度高的图标，自由进行图标配置，由此来制作操作者的菜单，可进行高效率的测量作业。

仅输入图纸上的数值即可进行测量的AI功能（已获得）

装载有AI功能，只需要输入加工图纸上的所记载的参数及容放值的条件，便可以自动选择*的取样长度、测量范围等测量条件来进行测量

显示测量步骤的引导功能

此功能可显示测量程序，以便使初次使用测量机的人也能顺利进行操作。

用于数据整理的便利的记录功能

用触摸笔可以把记录画面上书写的简单图形、文字如实地记录并打印到记录纸上。

满足各种需求的多种多样分析功能

装载有Ra、Rz、Ry、Sm、 S、tp等共34种粗糙度、32种波纹度的分析参数。

可能进行电气零部件的段差、膜厚以及面积等的分析。

倾斜补偿功能

装载有直线、前半、后半、两端、R面、花键曲线（已获得等6种自动倾斜补偿功能。

评价范围的任意设定（已获得）

用2条光标选择画面上的波形数据由2，可设定任意的主价范围进行各参数的运算。

配备有PC卡插槽

可管理测量条件及测量结果，以二进制格式和文本格式输出测量数据。从电脑的PC卡插槽很容易读取。

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技术参数：

型号		SURFCOM 130A
测量范围	X轴（横向）	50m
测量范围	Y轴（纵向）	800mm(测量范围/分辩率：800mm/10nm、80mm/1nm、8mm/0.1nm)
直线度精度		0.3mm/50mm
分析项目	使用规格	JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格
	参数	Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq. TLL T A. lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR
	评价曲线	剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度中心曲线（Motif）、波纹度中心曲线（Motif）、包络波纹度曲线
	表面特性图表	负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线
	倾斜补偿方式	直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、（直线、R面、两端补偿可以在任意范围内）
倍率	纵倍率（Z轴）	50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K、500K倍、自动
倍率	横倍（X轴）	1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动
滤波器的种类		标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器（高斯滤波器）
测量速度		0.3、0.6、1..5 3mm/s(4速)
传感器		前端半径2mm、材质为金刚石、测量力为0.75mN
*的功能	测量AI	装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握
	段差分析功能	zui适于测量半导体零部件的膜厚及面积
	PC卡	输出文本文件、将数据传送至电脑
标准配件		标准片E-MC-S24B、记录纸（E-CH-S21A）、触摸笔（E-MA-S54A）操作说明书
各要素	电源	AC100~240V±10%、50/60Hz、30VA
	设置尺寸	700（W）300（D）150（H）mm
	质量	8Kg

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