介电常数介质损耗试验仪

介电常数介质损耗试验仪：GDAT-A
介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的*方法

介电常数介质损耗试验仪的技术指标
  1．Q值测量
   a．Q值测量范围：2～1023。
   b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
 c．标称误差
项    目   GDAT-A
A 频率范围  20kHz～10MHz； B 固有误差  ≤5％±满度值的2％；C 工作误差  ≤7％±满度值的2％； D 频率范围   10MHz～60MHz； E 固有误差  ≤6％±满度值的2％； F  工作误差  ≤8％±满度值的2％。

2．电感测量范围：14.5nH~8.14H
3．介电常数介质损耗试验仪电容测量：1~ 460
项    目  GDAT-A
直接测量范围 1～460pF
主电容调节范围  准确度30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％
   注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
   4．介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项     目 GDAT-A
频率范围；10kHz～50MHz
频率分段（虚拟）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz     

介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

电感：
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH
 
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