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美国PosiTector 200C3涂层测厚仪
面议德国EPK MiniTest600BN涂镀层测厚仪
面议PosiTector6000涂层测厚仪
面议PosiTector200超声波涂层测厚仪
面议美国PosiTest DFT-Combo涂层测厚仪
面议PosiPen涂层测厚仪
面议PositeTest G涂层测厚仪
面议德国麦考特MIKROTEST G6机械涂层测厚仪
面议德国EPK MiniTest600BFN涂镀层测厚仪
面议MiniTest2500MiniTest4500涂层测厚仪
面议MiniTest 725/ 735/745涂层测厚仪
面议QNIX5500Fe3一体涂层测厚仪
面议Elcometer456涂层测厚仪
易高456提升新标准;提供可靠而精*的涂层 厚度测量结果,提高工作效率。
易高456有3种不同型号可选。每种仪器的功能不断增加,从入门型456 B,到高级型的456 T。
整体式仪器适合单手操作,因为在测量中,“大脚探头”的大接触面具有更好的稳定性,使用户得到持续且重复性强的精*结果。
分体式提供 多种探头, 测量机动性更强。
与ElcoMaster®和ElcoMaster® 应用程序兼容,读数可通过USB或Bluetooth®下载到个人电脑,iOS或Android™设备,以进行进一步分析和报告。
Elcometer456涂层测厚仪
主要特性的Elcometer 456 涂层测厚仪:
E456简便易用
大按键,即使戴上手套也可方便操作
多语言菜单设置
高对比度彩色LCD , 并带有自动旋转功能
高 , 低限值指示标志
工厂已校准,拆包即用
读数准确
测量精*度±1%
可依照多项和标准使用
热稳测量
能为薄涂层提高分辨率读数
在平滑 , 粗糙 , 稀薄表面及曲面上都可准确测量
e456测量可靠
重复性和再现性强
2年主机保修期
提供全套可追溯检验证书
数据组合备日期和时间标记功能
坚固
密封 , 耐用 , 抗冲击性强
防尘防水,防护等级相当于IP64
显示器抗划性及防溶剂性强
仪器及探头结构持久耐用
适合在恶劣环境下使用
e456高效
快速读数:70+/分钟,使用 扫描探头为:140+/分钟
多重校准内存
字母数组标识
用户可选校准方法
与ElcoMaster®和ElcoMaster®移动应用程序兼容
功能强大
多种探头可互换使用
USB和Bluetooth®数据输出到iPhone†或Android™设备
可分2500组存储150000个数据
能在金属基体上测量厚度达31mm (1220mils) 的涂层
涂层测厚仪校准的重要性
正式的质量体系, 例如ISO 9001中描述的那些要求对涂层测厚仪进行适当的控制, 记录和校准. 用户越来越多地指出, 测厚仪读取的读数可追溯到标准.
为了测试特定的测厚仪准确性, 重要的是具有可追溯的 涂层厚度标准。
易高提供全面系列的认证膜片和调零板以确保涂层测厚仪准确性.
*从易高456涂层测厚仪性能,通过校准涂层测厚仪适应应用以使用仪器的±1%精*度.此视频将引导您对整体式和分体式型号完成一系列校准选项.
*兼容iPod,iPhone和iPad.
Elcometer 456 型号 S & T: 这是为 iPhone 6 Plus, iPhone 6, iPhone 5s, iPhone 5c, iPhone 5, iPhone 4s, iPhone 4, iPad Air 2, iPad mini 3, iPad Air, iPad mini 2, iPad(第3和第4代),iPad mini, iPad 2, 和iPod touch(第4和第5代)制成。
“Made for iPod”, “Made for iPhone”及“Made for iPad”的意思是 一个电子附件为专门连接到iPod, iPhone或iPad设计, 分别和已经由*认证符合Apple性能标准。Apple不负责本装置或其符合安全和监管标准的操作.请注意, 使用此附件的iPod, iPhone或iPad可能影响无线性能。
iPad, iPhone和iPod touch是Apple Inc公司的注册商标 , 在美国和其他注册。App Store是Apple Inc公司的商标 , 在美国和其他注册。适合移动设备运行安卓2.1软件版本及以上 。Android™ 和 Google Play 是 Google 公司的商标。
整体式 |
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量程 1 | 测量范围: 0-1500μm (0-60mils) | 精*度*: ±1-3% 或 ±2.5μm (±0.1mil) |
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| 分辨率: 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils) |
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| 基本型(B) | 标准型(S) | 高级型(T) | 证书 |
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易高Elcometer456铁基整体式仪器 | A456CFBI1 | A456CFSI1 | A456CFTI1 | ● |
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易高Elcometer456非铁基整体式仪器 | A456CNBI1 | 参见带有N2PINIP™探头 | 参见带有N2PINIP™探头 | ● |
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易高Elcometer456两用整体式仪器 | A456CFNFBI1 | A456CFNFSI1 | A456CFNFTI1 | ● |
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量程 2 | 测量范围: 0-5mm (0-200mils) | 精*度*: ±1-3% 或 ±20μm (±1.0mil) |
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| 分辨率: 1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils) |
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要想在薄涂层上具有更高的分辨率和准确性,量程2仪器可转换为量程1模式 |
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| 基本型(B) | 标准型(S) | 高级型(T) | 证书 |
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易高Elcometer456铁基整体式仪器 | A456CFBI2 | 参见带有F2PINIP™探头 | 参见带有F2PINIP™探头 | ● |
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量程 3 | 测量范围: 0-13mm (0-500mils) | 精*度*: ±1-3% 或 ±50μm (±2.0mils) |
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| 分辨率: 1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils) |
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| 基本型(B) | 标准型(S) | 高级型(T) | 证书 |
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易高Elcometer456铁基整体式仪器 | A456CFBI3 | 参见带有F3PINIP™探头 | 参见带有F3PINIP™探头 | ● |
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分体式仪器 |
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| 基本型(B) | 标准型(S) | 高级型(T) | 证书 |
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易高Elcometer456铁基分体式仪器 | A456CFBS | A456CFSS | A456CFTS | ● |
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易高Elcometer456非铁基分体式仪器 | A456CNBS | A456CNSS | A456CNTS | ● |
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易高Elcometer456两用分体式仪器 | A456CFNFBS | A456CFNFSS | A456CFNFTS | ● |
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探头是单独提供 |
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