三丰高精度非接触测量系统LSM-503S

544-535三丰高精度非接触测量系统LSM-503S

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-04-30 22:40:02
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苏州美方机电有限公司

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产品简介

三丰高精度非接触测量系统LSM-503S
1.每秒3200次高速雷射扫描可实现自动生产线上的***率测量。
2.测量单位的安装型结构可实现各种测量。
3. LSM-500S专门为测量密线而设计。

详细介绍

三丰高精度非接触测量系统LSM-503S

测量范围:0.3-30mm

产地:日本

产品描述

实现非接触,高速和高精度测量

多用途型,  测量范围从0.3mm - 30mm。
高测量精度,在全测量范围内达±1.0um。在窄测量范围内达±(0.6+0.1ΔD)um高测量精度。
高重复精度达±0.1um。

技术参数
测量范围:             0.3—30mm
分辨率:                0.00002一0.1mm可选
20℃时的直线度*:  宽范围:±1.0um
                            窄范围:±(0.6+0.1ΔD)um
重复精度(±2σ):     ±0.11um
定位误差**:         ±1.5um
测量区域:             10x30mm
激光波长:             650nm,可见光
扫描速率:             3200 scans/s
激光扫描速度:       226m/s
激光适用标准:       IEC,FDA (544-536),JIS (544-535)
*在测量区域中心
**在测量区域中由于工件定位的变化造成可能的测量错误ΔD=校正规和

三丰高精度非接触测量系统LSM-503S产品说明:

射外径测定机用高速扫描光素可以测量於传统仪器难以测量的工作,如易碎或弹性零件,零件,需保持清结的零件,和在测量力作用下变形的零件,透明零件也可以测量。

三丰高精度非接触测量系统LSM-503S特点:

1.每秒3200次高速雷射扫描可实现自动生产线上的***率测量。
2.测量单位的安装型结构可实现各种测量。
3. LSM-500S专门为测量密线而设计。
4.防尘/防水保护级符合IP-64。
5.各测量单元的光学特性属据可储存在被提供的ID单元。

射外径测定机用高速扫描光素可以测量於传统仪器难以测量的工作,如易碎或弹性零件,零件,需保持清结的零件,和在测量力作用下变形的零件,透明零件也可以测量。

订货编号

544-531

544-533

544-535

544-537

544-539

544 -495C

机型

LSM-500S

LSM-501S

LSM-503S

LSM-506S

LSM-512S

LSM-902S

显示器

544 -071C /LSM-6200

LSM-902S/6900

品牌

Mitutoyo

光源

Wave Length : 650nm,可视光半导体

测量范围

0.005 -2mm

0.05 -10mm

0.3 -30mm

1 -60mm

1 -120mm

0.1 -25mm

小解析值

0.01um

0.01um

0.02um

0.05um

0.1um

0.01um

重现性

0.03um

0.04um

0.1um

0.36um

0.8um

0.05um

在20℃直线性*

0.3um

0.5um

1um

3um

6um

0.5um

位置误差

0.4um

0.5um

1.5um

4um

8um

0.5um

测量领域

1x 2mm

4x 10mm

10x 30mm

20x 60mm

30x 120mm

3x 25mm

扫描频率

3200回/秒

800回/秒

使用温度

0 ~ 40 C

使用湿度

35 ~ 85%RH (with no condensation)

 

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