使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长。采用双波束方式、双通道传感阵列实现高精度和高再现性。
通过技术革新实现SCI/SCE之间的切换，并将滤光器等部件的移动减至zui小。在设计和产品校准中引入了*质量管理体系，使产品具有高可靠性和耐用性。
通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE，仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是，无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换，这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化，因此可提供稳定的测量数据
包含UV的光源和筛除UV的光源依次发光，可获取包含UV的光源下的样本数据和不包含UV的光源下（400nm或420nmUV截止滤光片）的样本数据。
也可轻松获取任意光源下的数据（UV调整）。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本，即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于无需对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整，大大缩短了测量时间。
测量口径为 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm