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XP分析天平特点:
XP分析天平技术参数
表一: | XP105DR | XP205 | XP205DR | |
zui大称量值 | 31g/120g | 220g | 81g/220g | |
可读性 | 0,01mg/0.1mg | 0.01mg | 0.01mg/0.1mg | |
重复性(sd) | 加载处 | 0.06mg(100g) | 0.03mg(200g) | 0.06mg(200g) |
低加载 | 0.05mg(10g) | 0.015mg(10g) | 0.05mg(10g) | |
精细量程 (加载处) | 0.04mg(100g) | 0.04mg(100g) | - | |
精细量程 (低加载) | 0.015mg(10g) | - | 0.015mg(10g) | |
线性误差 | 0.15mg | 0.1mg | 0.15mg | |
四角误差(加载处) | 0.2mg(50g) | 0.2mg(100g) | 0.25mg(100g) | |
灵敏度偏移 | 4×10-6*Rnt | 2×10-6*Rnt | 2.5×10-6*Rnt | |
灵敏度温度漂移 | 1×10-6/℃*Rnt | 1×10-6/℃*Rnt | 1×10-6/℃*Rnt | |
灵敏度稳定性 | 1×10-6/a*Rnt | 1×10-6/a*Rnt | 1×10-6/a*Rnt | |
典型稳定时间 | 1.5s | 2.5s | 1.5s |