Leica EM RES102-徕卡多功能离子减薄仪-Leica EM RES102-链能金相实验设备南京有限公司手机版

产品简介

徕卡多功能离子减薄仪-Leica EM RES102概述
Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束，以一定入射角度对样品进行轰击，以去除样品表面原子，从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为：对无机薄片样品进行离子减薄，使得薄片样品可被透射电子穿过，从而适宜TEM透射电子显微镜观察；对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀，样品表面离子清洗及斜坡切割

详细介绍

徕卡多功能离子减薄仪-Leica EM RES102概述
Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束，以一定入射角度对样品进行轰击，以去除样品表面原子，从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为：对无机薄片样品进行离子减薄，使得薄片样品可被透射电子穿过，从而适宜TEM透射电子显微镜观察；对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀，样品表面离子清洗及斜坡切割，便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。
徕卡多功能离子减薄仪-Leica EM RES102性能
• 优异性价比：一台设备即可为TEM、SEM、LM电镜检测提供*试样，多种应用功能集于一体，高效并节约成本 • 安全：所有机械控制、样品移动实现全自动化，可获得重复性制样结果 • 分段冷却：对温度敏感样品得到充分保护，在优化条件下进行离子研磨，保持样品的原生态 • 操作简便：内置应用参数库，帮助文件，无论是初学者还是后期维护都十分简单
技术参数
	具有2把离子枪，离子束能量为0.8keV-10keV，相对位置，可分别±45°倾斜，样品台倾斜角度-120° 至 210°，离子束加工角度0°至90°，样品平面摆动角度＜360°，垂直摆动距离±5mm。实际操作参数根据具体应用需要选择（系统备有参考参数，也可自行设置参数并存储）
	可选配样品台：TEM样品台（Φ3.0mm或Φ2.3mm），FIB样品清洗台，SEM样品台，斜坡切割样品台（对样品35°或90°斜坡切割）等
	SEM样品台可容纳zui大样品尺寸：直径25mm，高度12mm
	全无油真空系统，样品室带有预抽室，保证样品交换时间＜1分钟
	全电脑控制，触摸屏操作界面，内置视频观察系统，可实时观察样品处理过程