IM3523日置HIOKI LCR测试仪-苏州计然之测电子科技有限公司手机版

详细介绍

苏州计然之测提供IM3523日置HIOKI LCR测试仪

宽广的测量频率
DC及1mHz(IM3523是40Hz)~200kHz的大范围频宽通过5位分辨率(100Hz不到是1mHz分辨率)进行设置。能够测量·评估共振频率的测量和运行条件相近的状态。

宽广的测量电压/电流
能够测量施加于普通开环的发生信号，并考虑到在定电压/定电流模式下的电压/电流。能设置大范围的测量信号电平，5mV~5V/10μA~大50μA。(根据频率，测量模式测量信号电平的设置范围不同)

基本精度±0.05%
Z的基本精度是±0.05%。从零件检查到研究开发都是*使用精度。

测量线缆长4m保证精度
4端子结构能够降低测量线缆的影响，测量线缆长4m以内能够确保精度。自动仪器的配线也方便。IM3523，IM3533设置有线缆长度补偿1m，长4m的精度保证。(根据线缆长度，保证精度的频率范围也不同)

可测量15种参数
能测量Z，Y，θ，Rs(ESR)，Rp，Rdc(直流电阻)，X，G，B，Ls，Lp，Cs，Cp,D(tanδ)，Q，并将所需要的数据读取到电脑。

测量时间快2ms
测量频率1kHz，测量速度FAST时，测量快可达2ms。自动产线使用时能够提高检查效率。

断线检查功能
4端子测量的断线检查功能是基于2端子测量是的High-Z调整功能，为避免测量时接触不到被测物测量用电极的情况发生。

不同测量条件的连续测量
不同测量项目通过不同测量条件(频率，电平，模式)能够连续测量

对已充电电容的保护*
被误充电电容在接触到测量端子的情况下，和以往机型(3522-50)相比提高了10倍的残留电量的保护功能*。
* 此功能并非保证测量已充电电容。还是须放电后才能测量

测量电容的C-D和ESR等，会遇到需要改变测量条件并连续测量的情况，与本公司以往机型(3522-50)相比，测量速度全面提高。除各项测量时间的缩短之外，改变量程和频率量程所需要的时间也大幅缩短了。

测量模式	LCR,连续测试
测量参数	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程	100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为高分辩率时的显示位数）只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗	正常模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源	100～240V AC，50/60Hz，大50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1