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紫外辐照计UV-B采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
紫外辐照计UV-B产品特点：
1.光谱及角度特性经严格校正
2.数字液晶显示，带背光
3.手动/自动量程切换
4.数字输出接口（USB,冗余供电）
5.低电量提醒
6.自动延时关机
7.有数字保持
8.轻触按键操作，蜂鸣提示
9.测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
10.使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
技术指标：
项目 | 参数 |
波长范围λ1，峰值波长λp | （230～275）nm，λP＝254nm |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103)μW/cm2 |
紫外带外区杂光 | UV254<0.1%，UV297<0.05% |
相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） |
角度响应特性 | ±5%（α≤10°） |
线性误差 | ±1% |
换档误差 | ±1% |
短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） |
疲劳特性 | 衰减量<2% |
零值误差 | 满量程的±1% |
响应时间 | <1秒 |
使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
整机功耗 | ＜0.1VA |
