激光原位分析仪

    将激光诱导击穿光谱分析技术（LIBS）和原位统计分布分析技术（OPA）*结合的，为材料成分分析，缺陷分析，涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。可用于航空航天、汽车、高铁、冶金、科研院所、质检中心等

仪器特点:

⊙ 多元素同时分析。28 个元素通道，包含 C，P，S 元素，

线性关系良好。

⊙ 预剥蚀时间，积分时间，门控延迟时间动态可调。

⊙ 分析简便、快速，无前处理过程，避免样品被污染。

⊙ 分析不受样品尺寸，状态，导电性，难熔与否的影响。

⊙ LIBS 具有高灵敏度与高空间分辨率，非常适合涂层材料、

薄膜材料分析。

⊙ 微小烧蚀光斑可进行局部微区分析，表面微损分析，适合材料

缺陷分析。

⊙ 非接触测量，响应迅速，分析时间短，可满足实时分析以及在

线分析的要求。

激光原位分析仪

仪器参数:

激光光源

⊙ Continuum SureliteTM III － 10 YAG 激光器

真空光学系统

⊙ 帕邢—龙格架法，光栅焦距 750 mm

⊙ 高发光全息光栅，刻线为 2400 条 /mm

⊙ 谱线范围：170 ~ 800 nm

⊙ 色散率：一级色散率：0.55 nm/mm

二级色散率：0.275 nm/mm

⊙ 分辨率：优于 0.01 nm

检测系统

⊙ 光电转换系统

⊙ 瞬态信号前端处理电路

⊙ 数字信号采集识别和解析系统

⊙ 多线程的数据采集方式

⊙ 样品扫描定位系统

⊙ 三维工作台

⊙ CCD 成像系统：联合数控工作台实现样品的定位和观察

⊙电源要求：220V/20A

⊙外形尺寸：1500 mm×750 mm×1600 mm（宽 × 深 × 高）

⊙重 量：毛重约 700 Kg