PCB镀层测厚仪 Thick800A,天瑞仪器

PCB镀层测厚仪 Thick800A,天瑞仪器

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2022-04-27 14:50:02
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产品简介

PCB镀层测厚仪 Thick800A,天瑞仪器 是天瑞仪器在Thick 680的基础上研发生产的新一代镀层测厚仪。新仪器在硬件、软件上都有很大的改进,运用新型的上照式设计,配备的Si-Pin半导体探测器,软件上加入了无标样FP法的,使仪器在镀层行业的运用上更广泛了。而且天瑞仪器更是从美国采购了全套的电镀镀层标样,能够满足电镀和表面处理厂家几乎所有的镀层厚度的测量。

详细介绍

 PCB镀层测厚仪 Thick800A,天瑞仪器

 专门针对电镀及表面处理行业中的镀层厚度测量、膜厚检测、镀层元素分析和电镀液的成分分析。
1、上照式,X射线光线从上方照射到检测样品上,对样品的形状没有要求,可以满足不规则样品的测试需求,而且更适合测量硅晶片等不适合接触测量台的样品;
2、狭缝(准直器),主要是限制X射线的照射面积,可以调节X射线的尺寸,以满足各种尺寸样品的测试需求。仪器可以提供4种准直器,分别是0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.5mm四种,小直径达0.1mm,可以轻松实现精小部位的测试,同时可根据测试需求电动切换准直器,根据样品的大小,选择合适的准直器,得到足够的激发强度,使测量更加准确;
3、样品测试平台,仪器可分为手动移动平台和高精度的可编程的自动移动平台,重复定位的精度小于0.005mm;
4、高分辨率探测器,运用的SI-Pin探测器,能量分辨率远好于比例接收器,适合测量多层镀层及干扰比较大的镀层成分,使测量结果更加准确;
5、良好的射线屏蔽作用,保证X射线,只有在铅玻璃保证罩*关闭时,X射线才会开启,保护操作人员不会受到辐射的危险。


 PCB镀层测厚仪 Thick800A,天瑞仪器技术参数

测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷   
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz


根据电路层数分类:分为单面板、双面板和多层板。常见的多层板一般为4层板或6层板,复杂的多层板可达几十层。PCB( Printed Circuit Board),中文名称为印制电路板,又称印刷线路板,是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气连接的载体。由于它是采用电子印刷术制作的,故被称为“印刷”电路板。

应用领域

   塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

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