膜厚测量仪THICK800A,天瑞仪器

 是能谱分析方法，它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick800A型X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

膜厚测量仪THICK800A,天瑞仪器产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷   
探测器分辨率：145eV
高压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：?1mm，?2mm，?4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义

计算机分析系统
联想计算机；高分辨率彩色液晶显示器。
惠普打印机。
系统软件
  *的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、
理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。
电源 
   AC 220V～240V、50Hz 。
   额定功率：350W。选配高精度参数稳压电源。
仪器尺寸、重量
  样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）
  主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）
  主机重量：约50KG。
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
印制电路板和柔性电路板上的镀层
接插件和连接器上的镀层
电镀槽液分析