Thick800A X荧光镀层测厚仪_天瑞仪器

  技术指标 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同） 
重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
分析元素范围：硫（S）～铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层 
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
SDD探测器：分辨率低135eV
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃ 
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

 Thick800A X荧光镀层测厚仪_天瑞仪器用领域  广泛应用电子电器、五金工具、PCB板、半导体封装、汽车空调扁铝片等企业，同时在金银饰加工、电镀行业也得到广泛应用。