天瑞仪器，X荧光镀层测厚仪 

 技术参数

重量：90 kg
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
*工作稳定性高
温度适应范围为15℃30℃
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层 
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

 天瑞仪器，X荧光镀层测厚仪 性能优势

可靠性高
由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求
：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
快速
1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
无损
测试前后，样品无任何形式的变化。
直观
实时谱图，可直观显示产品测试点
简易
对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
性价比高

相比其他类类仪器，x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。