天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪

  性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪Thick800a 技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

 天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪Thick800a 应用领域
，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
天瑞电镀层测厚仪性能优势

1.可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
2.满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
3.快速：40S就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
4.无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
5.直观：实时谱图，可直观显示产品测试点
6.简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
7.性价比高：相比其他类类仪器，x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。