上照式X荧光无损测厚仪镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-20052.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-20053.库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005测量标准1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence应用行业1.电子半导体行业接插件和触点的厚度测量2.印刷线路板行业功能镀层厚度测量3.贵金属饰手表行业镀层厚度测量4.五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量
仪器分析原理仪器采用XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

 上照式X荧光无损测厚仪仪器配置                                            1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： ①X光管                    ②半导体探测器③放大电路                  ④高精度样品移动平台⑤高清晰摄像头             ⑥高压系统⑦上照、开放式样品腔        ⑧双激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03   计算机、打印机各一台计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）4   资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。5   标准附件准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中） 仪器软件优势:                                     仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。 仪器参数规格1   分析元素范围：S-U2   同时可分析多达5层以上镀层3   分析厚度检出限达0.005μm4   多次测量重复性可达0.01μm5   定位精度：0.1mm6   测量时间：30s-300s7   计数率：1300-8000cps8   Z轴升降范围：0-140mm9   X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D) 性能特点1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，可以对同一镀件不同部位测试厚度3.高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加精准8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护 样品测试流程： 测试实例镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。 结论实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果*可以和显微镜测试法媲美。 质量保证1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；3. 保修条款3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；3.2. 免费保修期内，维修相关费用全免；3.3. 保修期结束后，乙方为甲方提供维修服务的资费标准如下：交通费、住宿费由甲方承担；资费标准：硬件成本费用——按乙方时价计算硬件运输费——实报实销服务费——300元 / 人 / 天人员交通费——实报实销人员住宿费用——￥200元/天4. 技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。  质量保证措施 1.管理能力: 本司通过了ISO9001质量体系认证，公司各方面的管理都非常规范。2