X光测厚仪Thick800A,天瑞仪器 1 分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
无损：
测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：
实时谱图，可直观显示产品测试点
简易：
对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
性价比高：
相比其他类类仪器，X光测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

  X光测厚仪Thick800A,天瑞仪器应用领域
X光测厚仪主要针对金属镀层（镀金，镀镍，镀锡，镀锌，镀铜，镀银，镀铑，镀钯等）厚度测试，广泛应用于线路板、五金工具，汽车配件，电子连接器，高压开关，卫浴等企业中，得到了客户的广泛应用和认可。

技术参数
重量：90 kg
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
*工作稳定性高
度适应范围为15℃30℃
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

X光测厚仪的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。X光测厚仪清晰明了,简单易学，备受客户青睐。
检测实例
以下使用Thick800AX光测厚仪对铜镀镍样品实际检测Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图