光谱型膜厚测试仪：俗称X荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪，电镀层厚度分析仪，金属镀层测厚仪，电镀厚度测量仪，电镀厚度检测仪，连续度检测仪，光谱镀层测厚仪，镀层厚度分析仪，镀层测量仪，电镀层分析仪等；

功能：精密测量金属电镀层的厚度；

应用范围

测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成

测量范围从22(Ti)到92(U);5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等院校等；

原理：X射线荧光什么是X射线?X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特.什么是X射线荧光?X射线荧光 是一个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程

仪器介绍

光谱型膜厚测试仪

技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。

厂家介绍

西、陕西西北片区，青海片区、东北三省片区。另外，除中国大陆以外片区香港、中国台湾及海外片区。公司通过电话等远程维护、上门服务、返厂维修以及对客户使用人员的技术培训来实现技术的应到和维护。

产品包括X射线荧光测厚仪，X荧光镀层测厚仪，x-ray膜厚仪，镀金镀银测厚仪，ROHS检测仪，直读光谱仪，手持式光谱仪，ROHS检测设备，手持式合金分析仪，气相质谱仪，液相质谱仪，原子荧光光谱仪，电感耦合等离子光谱仪，手持式光谱仪，等离子体质谱仪， 镀层膜厚测试仪，X荧光测厚仪，ROHS仪器，气质联用仪，液质联用仪，ROHS卤素检测仪，x荧光光谱分析仪，手持式光谱分析仪，x射线荧光测厚仪，气相色谱质谱联用仪，液相质谱联用仪，便携式合金分析仪，ROHS测试仪，x-ray镀层测厚仪，环保ROHS检测仪

公司的X荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚人体微量元素的检验等等。