X荧光光谱仪属于的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式技术为基础，结合国外相关新的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型。

EDX 3600K X荧光光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到水平。

应用领域

专为粉未冶炼行业研发的一款设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

性能优势

1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率达到139eV，各项指标优于标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高，检出限更低
①专业化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。
②采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快，从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术，其线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从第1秒就可以得出定性定量结果，
设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作
专业软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能
①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的*性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统
警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作。

仪器配置

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型

技术参数

型号：EDX3600K
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下
滤光片：6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：*的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃

软件优势

采用公司新的能谱EDXRF软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。
 

定性与定量分析

              （一）、定性分析
定性分析是X荧光光谱分析的基础，因为只有从仪器获得的谱图中辨认峰谱，才能知道待测试样中还有那些元素，并且分析待测元素的主要谱线，以及常见的干扰谱线，以便选择合适的测量谱线，用于定量分析方法，确定谱线的重叠校正方法，选择校正元素，终达到准确测试样品的效果。
定性分析的方法：
1、 判断仪器的能量刻度是否正确，可以用已知元素的样品进行测试，观察是否能够正确识别样品中的元素。如果不正确，需要重新建立能量刻度。
2、 先判断X光管靶材的特征峰位。其峰位处的峰谱，可能不是样品所含有的元素。
3、 分辨元素峰谱的K线和L线，一般情况下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多测试其K线，但35＃～52#之间的元素，其L线也可以被检测出来，同时它的L线会对轻元素测量产生影响。52＃以后的元素一般测试其L线。
4、 K线一般有K线必然有K线，线的强度比例在5:1左右，L线必然有L、L…等4条线，在判断是否是某元素时必须考虑这一因素。
5、 观察各个线之间的干扰，找到干扰的元素线系，并确定重叠干扰线之间的影响程度。
 
（二）、定量分析
              X荧光的定量分析可以简化为以下公式，它受四种因素影响：
                                                 Ci＝KiIiMiSi
              式中：C为待测元素的浓度，下标I式待测元素；K为仪器的校正因子；I式测得的待测元素X射线荧光强度，经过背景、谱重叠和死时间校正后，获得的纯强度。M式元素间的吸收和增强效应校正。S与样品的物理形态有关，如试样的均匀性、厚度、表面结果等，要通过制样来消除。
       根据以上的简化公式，可以将定量分析的方法分为以下几个步骤：
①     根据样品的物理形态和对分析精度与准确度要求，决定采用何种的制样方法。确定了制样方法后，应了解制样的误差主要因素，应该在方法中加以注意。
②     用标准样品确定的分析条件，如：X射线管的管压，管流，原级谱滤光片，测量时间等。
③     确定强度的提取方法。
④     制作工作曲线。
⑤     用标准样品验证分析方法的可靠性及分析数据的不确定度。

厂家介绍
 

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。