X荧光分析仪(天瑞)

X荧光分析仪(天瑞)

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具体成交价以合同协议为准
2022-04-27 12:50:02
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广东天瑞仪器有限公司

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产品简介

X荧光分析仪(天瑞)广泛应用于rohs检测,主要用于对电子产品的有害物质六大元素进行分析检测:铅、汞、格、六价铬、Br/Cl。xrf分析仪用途可以用于工厂的内部管控,对有害物质进行快速测试。

详细介绍

 X荧光分析仪(天瑞)广泛应用于rohs检测,主要用于对电子产品的有害物质六大元素进行分析检测:铅、汞、格、六价铬、Br/Cl。xrf分析仪用途可以用于工厂的内部管控,对有害物质进行快速测试。

 

 X荧光分析仪(天瑞)技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:160±5eV
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm

重量:45Kg

其他应用:

检测仪:

X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积铍窗探测器,可准确无误地分析出 ,铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量,测试结果*符合国标GB/T 18043-2000要求。
贵重,仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于超高度、超高分辨率、更清晰的摄像头、一键式智能操作,一切让贵金属检测如此简单!

镀层测厚仪:

镀层测厚仪xrf分析仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试镀金层,镍铬层,铜层厚度,镀银层等金属膜厚测试。


性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围0-50微米。
同时五层镀层
镀层厚度一般在50μm以内
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

 

手持式xrf


1、重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有仪器套,更易抓握,野外使用更方便。
2、360 °可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清晰显示。
3、密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续使用。
4、无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的精细测试。
*更的性能
1、无损快速检测,对准即测,一秒可报结果和合号。性能堪比台式机,检测效果又快又准。
2、同时检测 钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、 钯、银、铟、锡、锑、铪、 钽、 钨 、铼、铂、金、铅、 铋、镁、铝、硅、磷、硫 元素,并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。
3、超近光路设计,仪器无需充氦气,可检测从Mg开始的轻元素,*可以满足特定用户的需求。
强劲的电力
1、选配超大27000mAH锂电池,续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器,保证电力供应。
2、内置记忆电池,换电池不断电。
的配置
微型光管、Fast-SDD探测器(世界上的探测器)、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精度。
采用超高主频及大内存,超大存储空间,可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术,保证每秒有效采谱计数可达500k cps。
准直滤波系统,其组合达到极限12组,满足客户的不同条件下的检测需求。
内置500W像素高清晰摄像头,随时观察样品测试位置,使测量更加精准。
安全的防护
1、智能三色预警系统:LED三色长灯带设计,360度*显示。通电开机时绿灯亮,测试红灯闪烁,设备故障黄色灯闪烁,仪器状态,一目了然。
2、三重安全防护功能:
a: 自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。
b: 采用加厚防护测试壁,有效防止散射。
c: 配送防护安全罩,防周边轻基体散射。
3、安全联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,时间保护您的安全,守护后关卡。
智能的软件
1、EXPLORER 5000 合金分析仪配有专门针对合金行业的专业应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、操作简易等特点。
2、全新的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和专家模式)。用户模式一键识别样品材质;专家模式可进行增加元素,增加特定曲线等深入分析操作。
3、内置强度校正方法,校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
技术性能数据
型号:EXPLORER系列手持式X荧光光谱仪
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为12~92【镁(Mg)到铀(U)】之间的元素均可测量
微电脑系统:工业定制专业系统, CPU: 1G , 系统内存: 1G , 扩展存储支持32G, 标配4G, 可以海量存储数据
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:1-60秒(一秒报结果和牌号)
内置系统:GPS、Wi-Fi、蓝牙
电源:可充电锂电池,标配9000mAh,可持续工作12小时;可选配27000mAh超大电池,配有宽电压110V~220V通用适配器,可充流供电使用
检测对象:固体、液体、粉末
探测器:SDD探测器及Fast-SDD探测器(可选)
探测器分辨率:到128eV
激发源:50KV/200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
准直器和滤光片:直径4.0mm和2.0mm准直器,6种滤光片组合自动切换
视频系统:500万像素的高清晰摄像头
显示屏:全新5寸液晶显示触摸屏,其分辨率是1080*720
检出限:检出限达1~500 ppm。
安全性:多重安全防护,不测试,*,工作时的辐射水平远低于安全标准,且具有无样品空测,自动关X光管功能。标配辐射屏蔽罩、加厚仪器合金测试壁
应用方便性:无需选择曲线,一键智能匹配曲线
数据传输:数字多道技术,SPI数据传输,快速分析,高计数率;防水迷你USB,并且可以外接台式电脑
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:-20℃~+50℃
仪器外形尺寸:244mm(长)x 90mm(宽)x 330mm(高)
仪器重量:1.7Kg

矿石分析仪;

专为粉未冶炼行业研发的一款设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用

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