QNIX4200P-德国尼克斯分体涂层测厚仪-森玛特仪器（北京）有限公司手机版

详细介绍

德国尼克斯分体涂层测厚仪

型号：QNIX4200P

分体涂层测厚仪: 基体：Fe磁性基体，测量范围：0-3000微米，探头：分体探头

QNIX4200P涂层测厚仪分体设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。QNix4200P为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层。操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。

QNIX4200P涂层测厚仪分体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。

QNix4200P为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层。操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。

在传统QNix4200基础上，为了满足客户不同的需要，特推出QNix4200P（分体式）机，探头和主机之间通过一根探头线连接起来，可以满足特定测量环境（比如狭小空间）的需要，测量更方便，使用更人性化，性价比更高

QNIX4200P涂层测厚仪产品优点：

分体化设计，满足不同环境的测量

只需调零，无需校准

体积小巧，操作方便

精度高

价格便宜

德国尼克斯分体涂层测厚仪技术参数

QNix® 4200P SONDEN

Sonde	Messbereich		Substrat	Abweichung
QNix® 4200 3 mm	3000 µm		Fe	+/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm	5000 µm		Fe	0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm)  2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)
Kleinste Messfläche		Kleinster Krümmungsradius			Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm		Konvex: 5 mm  Konkav: 5 mm			200 µm