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日置HIOKI LCR测试仪IM3536
DC，4Hz~8MHz测量频率
● 测量频率DC，4Hz~8MHz
● 测量时间：1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中
陶瓷电容器可分为，随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz，内置电压范围10mV~5V，非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。
电感器（线圈）所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率更低的频率下测量L和Q。
LCR测试仪IM3536的测量频率很广，可以设置为DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改变测试频率进行测试。
日置HIOKI LCR测试仪IM3536的参数：
| 测量模式 | LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） |
|---|---|
测量参数 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 测量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） |
| 显示范围 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
| 测量频率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
| 测量信号电平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定 |
| DC偏压 | 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
| 输出阻抗 | 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，触摸屏 |
| 功能 | 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 |
