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GXF-215C型数显式硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根(SiO2)含量测定以及纯水制备过程中水质监测的*仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定“(硅钼蓝光度法)”。
本系列仪器具有不工作时的待机功能,对光源采取了有效的保护,可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具保证。
技术指标:GXF-215C型数显式硅酸根分析仪
型号 | GXF-215B硅酸根分析仪 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析仪 |
测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本误差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 (30分钟) | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
*漂移 (24小时) | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化学方法 | 硅钼兰光度法 GB 12150—89 |
GXF-221型智能式硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根(SiO2)含量测定以及纯水制备过程中水质监测的*仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定 硅钼蓝光度法”。
本系列仪器可对检测过程中是否存在干扰进行判断,具有错误信息提示以保证采样数据有效。可对采样数据利用程序进行分析处理,提高了测量精确度,并将测量值存储及自动打印输出。仪器还具有自诊断功能。
技术参数:
测量范围:0~200.0μg/SiO2
基本误差:≤±2.0%FS
重复性误差:≤±0.5%FS
短期漂移(60分钟):≤±0.5%FS
*漂移(24小时):≤±2.0%FS
化学方法:硅钼兰光度法GB 12150—89
电源/功率:220V/45W
外型尺寸:长×宽×高:430×415×160(mm)
重量:11kg