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DL850 示波记录仪 |
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详细介绍 |
DL850示波记录仪系列是模块化波形记录仪,可以同时测量电压、电流、应变、加速度等多种信号。 DL850系列具有高速采样、高绝缘耐压、多通道测量等优点,为节能领域的设备开发、评估和质量控制提供强有力的支持。
超高速存储记录仪 · 高速(可达100MS/s)、高分辨率(zui高16位)、隔离(zui高1kV*1) · 多通道,多达128个电压通道或128位逻辑输入 · 能以100kS/s的速度在16个通道同时进行连续硬盘记录*2 · 监视CAN总线、显示趋势波形(*DL850V) · 15个插拔模块 *1.与隔离探头(700929或701947)组合使用时 测量越来越快的变频器信号 高速(100MS/s)、高分辨率(12位)、1kV绝缘测量。*
实例:以10MS/s和100MS/s的速度测量同一变频器输出波形。 DL850拥有15种*的插入式模块,几乎可满足任何测量任务。 DL850除了向后兼容DL750的所有测量模块外,又在产品线中增加了四个新的模块。自由组合这些模块后,不管是微弱电压到高速、高压信号都可测量。
更* – 更多的测量点 – zui多128 CH的电压输入和128位的逻辑输入 使用16-CH电压输入模块(扫描型*)时,即使16个通道全部使用,也能以10kS/s的采样率进行测量。使用8个输入模块插槽,DL850可执行128CH的电压测量。 逻辑输入模块能够以高达10MS/s*的速度,测量从TTL电平到高电压接点闭合的所有信号。通过八个逻辑模块,DL850可以监视并执行128位的逻辑测量。 实例:测量多输出电源 家用电子产品的电源输出数量较多,需要控制各个输出之间的顺序。使用多通道模块,就不再局限于电压测量,只要一台仪器就可以完成从PC控制信号到AC风扇动作、每个部件的温度,从低速至高速信号的所有测量。
以高采样率捕捉耐久性测试中的突发现象 – 双捕获功能 进行耐久性测试时,为能把握长时间的趋势数据,通常以低采样速率采集趋势数据。但突发的高速瞬时现象,需要用高采样率来捕捉。 1. 缩放波形 - zui大采样率为100kS/s时,可以边进行趋势测量边以zui高100MS/s的速度记录5k~500kpts的高速触发测量数据,zui多可以记录5000个现象。记录长度为5-500k点。 2. 事件波形 - 显示采集到高速波形时的时间。 3. 低速主波形 - zui高100 kS/s 以低速滚动模式显示趋势波形 4. 捕捉波形 - zui高100MS/s以高速触发测量捕捉突发现象
实例:部件耐久测试 汽车以及其它交通运输工具的部件对可靠性的要求非常高。在不同温度环境下执行连接器的振动试验时,“双捕获”功能将发挥作用。 · 用高采样速率准确观测震动 · 用低速采样率确认发生频率 功能1: 回放过去的波形 – 历史功能 执行高速重复测量期间,当您看到异常现象并按停止键时,异常现象往往已从屏幕上消失。 通过历史功能,可自动对大容量内存进行分割并自动保存多达5,000屏历史波形,随时可以回放这些波形。
搜索历史波形
拥有丰富的触发功能 简单触发&增强触发 DL除了提供易于使用的“简单”触发外,还有各种“增强”触发功能,通过丰富的组合确保捕捉到想要的波形。 通过*、易于理解的图形用户界面,可以直观地设置增强触发条件。
· 边沿:在单一的触发源的边沿触发(上升、下降、上升/下降) · 时间:按时间或固定间隔触发 增强触发 · A -> B(N):满足条件A后,条件B第N次得到满足时触发 · A Delay B:满足条件A并且时间已超过所设定的延迟量后,满足条件B时触发 · Edge On A:在满足触发条件A的情况下,在另一个边沿触发的OR条件下触发 · OR:多个触发源中只要满足一个触发条件就触发 · AND:多个触发源的触发条件都满足时触发 · 周期:满足波形周期的条件时触发 · 脉宽:在脉宽条件满足时间和设置时间长度的条件下触发 · 波形窗口:通过生成的波形窗口时触发 实例:“A Delay B”触发设置屏幕(GUI)
波形窗口触发 波形窗口触发功能可用于诊断典型的电源故障,如瞬时断电、电压下降或浪涌。此外,还可以高效检测频率波动、电压下降等现象(波形为40~1,000Hz的交流波形)。比较当前波形与基准波形(实时模板),如果当前波形超出容许的范围后触发。基准波形由前一波形实时自动生成。
动作触发 捕捉到不常发生的现象时,可以使用“动作触发”功能,触发时执行事先的多个动作。
优异的抗噪声性能 通过低噪声设计实现了良好的抗干扰性能。变频器电路中的浮动电压切换波形也可准确捕捉。
功能2: 实时噪声抑制处理和功率运算 – 实时运算(/G3选件) DL850配备用于运算的DSP(数字信号处理器),捕捉波形期间可实时执行通道间的运算。通道间的运算功能十分强大,可以按通道分别设置滤波运算。除FIR、IIR、高斯函数和移动平均滤波之外,还可以使用zui多30个公式,例如带系数的四则运算、积分和微分、高阶函数运算等。 · 显示测量波形和运算波形的任意组合(总数zui多16个)。 · 可以设置无模块通道。
通过丰富的函数功能可直接显示想要的波形 – 用户自定义运算(/G2选件) DL标配四则运算、时移、FFT等运算功能,可以显示消除偏置或去除延迟后的波形。此外,还增加了用户自定义运算功能(/G2选件),可以将微积分、数字滤波等多种函数进行组合并执行运算。 用户自定义运算的设置屏幕
自动提取振幅、频率和其它参数 – 波形参数和统计运算 在26种波形参数(波幅、频率等)中,zui多可同时提取并显示24个参数。菜单以图标列表的形式显示,便于查看。
检测和通知异常波形、判断通过/不通过 - Go/NO-GO判断 DL可以判断波形或波形参数运算值满足(GO)或不满足(NO-GO)预设的条件。判断测量结果时,将执行预设动作,并向用户通报观测到的异常波形和通过/不通过判断
支持多台仪器同步测量 – IRIG输入(/C20选件)
支持外部硬盘 – 外部硬盘接口(/HD0选件)
确认迟滞和相位之间的关系 – XY显示功能 通过X-Y显示,可以确认两个信号之间的关系。此功能可用于测量两个正弦波的相位角等。 X轴和Y轴的组合设置多达四种,可以同时显示多个X-Y波形,这样便于找到相互间的关系。 还可以同时观测X-Y波形和正常T-Y波形(用电*和时间轴显示波形)。 实例:磁体动态BH特性运算 使用DL850可以测量磁芯的电压和电流,然后分析磁体磁通密度B和磁场强度H的迟滞。通过测量动态BH特性,可以评估磁致伸缩产生的能量损耗。
磁通密度:B = Integ (C1) / (K1*K2) 连接接口:
1. EXT I/O - 可输出GO/NO-GO判断结果,也可以通过开始/结束和其它其它外部信号控制仪器 2. 外部时钟I/O (EXT CLK IN) - 根据外部信号执行时钟采样(zui高9.5MHz)。 3. 外部触发输入(EXT TRIG IN) 4. 外部触发输出(EXT TRIG OUT) 5. 视频信号输出(VIDEO OUT) - 在外部RGB (XGA)显示器上确认波形。 6. USB-PC接口 - 可从PC控制仪器。 7. 以太网1000BASE-T - 标配 8. GP-IB(可选) 9. IRIG(可选*2) - 输入外部时间信号,实现多台DL850同步。 10. 外部硬盘接口(可选*1) - 连接eSATA标准硬盘。 11. SD卡插槽 - 符合SD、SDHC标准,标配 12. USB外围设备接口 - 支持USB存储器、键盘和鼠标输入。
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