高精度数显高度计/高度规0.01μm
高精度数显高度计/高度规0.01μm

SJ217高精度数显高度计/高度规0.01μm

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-04-25 10:00:02
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上海玖析科学仪器有限公司

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产品简介

高精度数显高度计/高度规0.01μm zui小可读取数值为0.01um,可测量长度为50mm,重复性优于0.1um。在20℃时精度在±0.2um之内,SJ101为触控操作,内有校准系统和数据存储计算功能。配指示表检定软件。

详细介绍

SJ217高精度数显高度计、高度规(量程50mm,精度0.2μm,小分辨率0.01μm

 

一、产品简介:

SJ217高度计小小可读取数值为0.01um,可测量长度为50mm,重复性优于0.1um。在20℃时精度在±0.2um之内,SJ101为触控操作,内有校准系统和数据存储计算功能。配指示表检定软件。
二、产品用途:

本仪器采用进口高精度光栅作为测量基准,遵循阿贝原则,按照机械稳定性和热稳定性的原则设计而成。

本机广泛适用于多种应用,其应用包括精密工件检测、多点检测、测量设备检测和位置测量等众多领域。

高精度数显高度计/高度规0.01μm 特点:

1)高精度:进口光栅;
2)品质:经过10万次重复性实验;
3)检测速度快,快速检测不跳数;
4)校准方便;
5)采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力极小;
6)应用广泛,自动检测设备、手动测量或定位设备——无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。

高精度数显高度计/高度规0.01μm 技术规格:

整体型号

SJ-217

配置

50mm测头+SJ101+陶瓷台架+软件

测量范围

(0-50)mm

测量传感器

进口高精度增量式光栅系统

驱动系统

被测物驱动,弹簧复位

精度(20℃)

±0.2um

重复性

优于0.1um

小读取值

0.01um

测量速度

小于7.2m/s

测量力

0.75N-1.15N

显示装置

4.3寸触摸屏

测头

硬质合金球形测头(可选配平面测头、针式测头、偏心测头)

外部输出

RS-232

输入电压

AC 100~240V 50~60HZ

功能

自动归零/预设置/数据存储/数据校准/软件

单位切换:

公制/英制

工作温度:

(20±1)℃

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