日本santec可变波长光学元件扫描测试系统

扫频测试系统

通过结合可变波长光源（TSL系列），功率计（MPM），偏振控制单元（PCU-100）和定制软件，在研发和生产线上对IL / WDL / PDL进行有效的测量和评估你能行的。

多站测量

通过将扫频测试系统与多分支单元相结合，可以进一步提高检查和评估的效率。

总览

扫频测试系统结合了可变波长光源（TSL系列），多端口功率计（MPM系列），偏振控制单元（PCU-100）和软件，是光学设备和生产现场研发的理想选择。这是一个评估工具。通过实时参考可变波长光源的输出功率同时获取通过DUT传输的光功率，可以高精度地测量IL / WDL / PDL。该系统使用穆勒矩阵方法来计算PDL。

特性

• 实时电源参考
• 高精度的IL / WDL / PDL特性测量-
  高IL重现性<±0.02
  dB-高PDL重现性±0.01 dB
• 缩放算法-
  具有高波长分辨率和波长精度
  的测量-减少测量时间
• 可以进行多通道测量
• 图形用户界面和DLL支持（Visual Studio）-
  易于设置测量参数-
  数据分析

WDL（与波长有关的损耗）测量

80 dB或更高的高动态范围测量

我们的可变波长光源TSL系列配备了具有创新设计的谐振器，可减少ASE光学噪声，同时实现很高的信噪比和很高的光学输出功率。因此，该系统可以同时评估具有高动态范围特性的光学组件的多个端口的特性。
下图分别显示了CWDM滤波器和陷波滤波器（例如FBG）的测量数据。

波长精度高+/- 3 pm

由于TSL系列标配了波长监视器，因此可以高精度地测量光学组件。
下图显示了乙炔（12C2H2）气体吸收线的测量波长，可以看出以*的测量精度可以进行测量。

波长分辨率低于0.1 pm

该系统不仅可以用于WDM的光学组件，而且可以用于窄线宽滤光片，以高波长分辨率测量WDL和PDL。
该图是超高Q容量设备的测量结果，您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率进行测量。

运用

• 光学组件，模块评估-
  波长选择开关（WSS），AWG，波长阻挡器-
  波长可变滤波器，交织器，FBG，耦合器，隔离器，光学开关
  -DWDM组件
• 光子器件/微腔谐振器评估
• 光谱测量

配置示例

1. PDL（极化相关损耗）测量

• • 可变波长光源TSL-710 / TSL-550
  • 偏光控制器PCU-100
  • 光功率计MPM-210

2. WDL（波长相关损耗）测量 

• 可变波长光源TSL-710 / TSL-550
• 光功率计MPM-210

3. WDL（波长相关损耗）测量（其他公司的功率计）

• 可变波长光源TSL-710 / TSL-550
• 扫频处理单元SPU-100
• 光功率计（需要记录功能）
  示例）Keysight 816 x A / B，774 x A功率计
  光电探测器+ DAQ

日本santec可变波长光学元件扫描测试系统

多站点检测

在多站测量系统中，可变波长光源，偏振控制器和多分支单元用作服务器，并且光和触发信号从它们分支并发送到每个站。每个站仅包含一个功率计和一台PC。

在测量期间，服务器的可变波长光源连续扫描预定范围。因此，每个站可以随时独立于其他站进行测量。

这样，该系统可以在保持高精度特性的同时进一步提高检查和评估的效率。

• 可调谐激光器TSL-710 / TSL-550
• 偏光控制器PCU-100
• 多分支单位/ MBU-100
• 光功率计MPM-210