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日本seric紧凑型太阳光模拟器XI-05A1V1-P
面议日本seric人工太阳照明灯 SERIC XELIOS
面议日本LUCI便携式太阳光检查灯Luci Tesora
面议日本seric小型太阳光光源SERIC XELIOS-iO
面议日本电通产业dentsu图像处理用的环形荧光灯
面议日本电通产业dentsu超高亮度LED透过照明
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面议日本电通产业dentsu偏振畸变LED照明器
面议日本电通产业dentsu高强度LED照明装置
面议日本林时计HAYASHI体视显微镜用环形LED照明
面议日本林时计HAYASHI机床辅助照明设备光源
面议日本电通产业dentsu体现显微镜用环形荧光灯
面议日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES
易于携带和测量的手提式薄层电阻测量仪:DUORES
根据测量目标交换和使用两种类型的探头(无损探头和接触探头)。
•世界上首ge可替换和使用两种类型的探头(无损型和接触型)的便携式座位电阻测量装置 •
只需放置/敲击探头即可自动进行测量
•电池连续工作时间:24小时(*电池)使用时)
•显示的数据数量:多100(*从xin数据显示)
•存储的数据数量:多50,000(*软件显示屏)
•测量数据传输功能:USB-Mini
•显示:3种类型的显示单位(Ω/□,S /□,n / m [金属膜厚度转换]), 4位浮动小数点(0.000到9999)
日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES
测量目标
薄膜,玻璃,纸材料等
通常,可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低电子玻璃
•碳纳米管,石墨烯材料
•金属材料(纳米线,网格,网眼)
•其他
测量尺寸
不论尺寸和厚度如何均可测量
(* 大于每个探头的测量点尺寸)
<测量点>
・无损探棒(涡电流型):φ25mm
・接触式探头(4种探头类型):9毫米
测量范围
・无损探棒(涡电流法):0.5 -200Ω/ sq
・接触探棒(4探法):0.1 -4000Ω/ sq