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日本seric紧凑型太阳光模拟器XI-05A1V1-P
面议日本seric人工太阳照明灯 SERIC XELIOS
面议日本LUCI便携式太阳光检查灯Luci Tesora
面议日本seric小型太阳光光源SERIC XELIOS-iO
面议日本电通产业dentsu图像处理用的环形荧光灯
面议日本电通产业dentsu超高亮度LED透过照明
面议日本nihonika植物斑点荧光灯,用于植物生长
面议日本电通产业dentsu偏振畸变LED照明器
面议日本电通产业dentsu高强度LED照明装置
面议日本林时计HAYASHI体视显微镜用环形LED照明
面议日本林时计HAYASHI机床辅助照明设备光源
面议日本电通产业dentsu体现显微镜用环形荧光灯
面议日本napson非接触型脉冲电压超低电阻检测仪PVE-80
一种非接触式电阻测量系统,使用脉冲电压激励方法作为测量原理,可在不损坏样品的情况下进行测量。
节省空间的设计主体外壳,便携式可移动台
通过PC(软件)进行简单的测量操作,数据存储和管理
测量显示单元可以根据应用(薄层电阻,电导率,电导率)进行更改
*本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法(专li号5386394)。
测量目标
与新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)与
导电薄膜相关(金属,ITO等)
与化合物半导体相关(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查询)请给我)
测量尺寸
〜A4尺寸(W300 x D210mm)
测量范围
50μ〜1mΩ/平方