ZT低温测试仓
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ZT低温测试仓

ZT-CTH-800BZT低温测试仓

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-04-22 18:30:02
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东莞市正台测试仪器有限公司

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产品简介

ZT低温测试仓国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电子、电器零组件,塑料、化工业,食品业,制药工业及相关产品之耐寒、耐干性能及研发,质量管理工程之试验规范。

详细介绍

ZT低温测试仓适用范围:

       国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电子、电器零组件,塑料、化工业,食品

业,制药工业及相关产品之耐寒、耐干性能及研发,质量管理工程之试验规范。

 

ZT低温测试仓满足标准:GB/T2423.1~2《电工电子产品的基本环境试验规程试验。A:

低温试验方法》.

 

执行与满足标准:

1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件;

2.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;

3.GB2423.1低温试验、试验A

4.GB/T2423.34-2005低、温度循环试验。

 

 


 

规格型号及技术参数:

ZT-CTH-80B,    ZT-CTH-120B 

ZT-CTH-150B,  ZT-CTH-225B                                         

ZT-CTH-306B,  ZT-CTH-408B

ZT-CTH-800B,  ZT-CTH-1000B

 
1.温度范围 :常温RT~0
℃/-20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70/-86。  

2.控制稳定度 :±0.5℃  

3.分布均匀度 :±1.0℃  

4.温度偏差:  ≤±2℃                          

5.正常降温时间: +20~0℃小于20分钟

                           +20~-20小于45分钟

                           +20~-40℃小于60分钟

                           +20~-50小于70分

                           +20~-60℃小于75分钟

                           +20~-70℃小于80分钟

                        +20~-86小于100分钟

工作内尺寸:   

ZT-CTH-50B      W宽35XH高40XD深35cm

ZT-CTH-80B      W宽40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120B    W宽50XH高60XD深40cm

ZT-CTH-150B    W宽50XH高60XD深50cm

ZT-CTH-225B    W宽60XH高75XD深50cm

ZT-CTH-306B    W宽60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408B    W宽60XH高85XD深80cm 

ZT-CTH-800B    W宽100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000B  W宽100XH高100XD深100cm

 

控制器:

      采用加拿大“RUERSI”*微电脑液晶显示薄膜按键型,英文表示温度可程控器,具

10组程序100段次记忆,每段 99Hour59Min,每段可循环999次,可任意分割设定,并附多

组PID控制功能。

                                                                   

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