Norcada 碳化硅膜为电子、X 射线和光学显微镜提供了坚固的导电基板。SiC是一种具有高导热性和导电性的导电晶体材料，为元素分析提供了无氮环境。SiC膜可用作原位电化学和气体电池的基板，以及薄膜外延生长的基板。这些的膜还可以用作X射线光学器件，光子晶体，量子谐振器和MEMS结构的基础。SiC 还可用作 X 射线光学器件、X 射线束出入口窗口、探测器窗口和 X 射线终端站的透射窗口。请联系Norcada以获取有关SiC传输窗口的更多信息，因为某些单元的设计和组成可能需要更改。

• 用于薄膜和生物材料的EDX元素分析和X射线光谱的无氮底物
• 高导热性
• 低电阻率硅框架，增加电荷和散热

• 产地：加拿大
• 厚度:50nm
• 薄膜尺寸：0.50×0.50mm
• 孔径：2.0µm
• 孔间距：3.0µm
• 是否进口：是
• 应用：广泛
• 封装：厂家制定
• 性能：良好
• 可靠性：高