NORCADA碳化硅膜PSCX5050A-LTH2

PSCX5050A-LTH2NORCADA碳化硅膜PSCX5050A-LTH2

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2023-05-28 11:16:53
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天津瑞利光电科技有限公司

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产品介绍Norcada碳化硅膜为电子、X射线和光学显微镜提供了坚固的导电基板

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Norcada 碳化硅膜为电子、X 射线和光学显微镜提供了坚固的导电基板。SiC是一种具有高导热性和导电性的导电晶体材料,为元素分析提供了无氮环境。SiC膜可用作原位电化学和气体电池的基板,以及薄膜外延生长的基板。这些的膜还可以用作X射线光学器件,光子晶体,量子谐振器和MEMS结构的基础。SiC 还可用作 X 射线光学器件、X 射线束出入口窗口、探测器窗口和 X 射线终端站的透射窗口。请联系Norcada以获取有关SiC传输窗口的更多信息,因为某些单元的设计和组成可能需要更改。

性能特点
  • 用于薄膜和生物材料的EDX元素分析和X射线光谱的无氮底物
  • 高导热性
  • 低电阻率硅框架,增加电荷和散热
技术参数
  • 产地:加拿大
  • 厚度:50nm
  • 薄膜尺寸:0.50×0.50mm
  • 孔径:2.0µm
  • 孔间距:3.0µm
  • 是否进口:是
  • 应用:广泛
  • 封装:厂家制定
  • 性能:良好
  • 可靠性:高
产品参数
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1817 [{"ID":"736688","CompanyID":"96130","Title":"炉前炉后碳硫分析仪恶劣环境下针对炼钢厂钢筋材料检测","Picture":"","PictureDomain":"","UpdateTime":"2024/7/19 7:55:24","CreateTime":"2024/7/19 7:55:24","ClassName":"技术交流","rn":"3"},{"ID":"719778","CompanyID":"64211","Title":"传统金属多元素分析仪的缺陷及应对措施","Picture":"","PictureDomain":"","UpdateTime":"2024/4/5 7:18:17","CreateTime":"2024/4/5 7:18:17","ClassName":"技术交流","rn":"4"}]