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kingbrightusa光电传感器APS3227SP1C-P22
面议Image Science Ltd可见光测试台VIS
面议IBSEN PHOTONICS显示器I-MON 256 USB
面议HAMAMATSUInGaAs线性图像传感器G9203-256DA
面议Boston Electronics红外探测器HPS A01B
面议ANTON PAAR电动固体表面分析仪surpass
面议ANDANTA线性图像传感器LDA512-C系列
面议Baspik开放式探测器DV2510A
面议AMPTEK硅漂移探测器FAST SDD
面议NTT AT光学连接器抛光机ATP-3200
面议VIGO Photonics光电导探测器PC-9-AF1×1-TO39-NW-90
面议Koheron光电探测器PDX10R
面议Andor 的 PV Inspector NIR 相机旨在为在线电致发光和光致发光检测提供超快的速度和灵敏度性能,在 800 nm 以上提供 > 90% 的 QE,并结合了边缘抑制技术,以大限度地减少 NIR 中的边缘效应。1024 x 1024 阵列拥有高分辨率 13 μm 像素,并受益于可忽略不计的暗电流和低至 -70°C 的热电冷却。PV Inspector 通过高达 5 MHz 的快速读出速度提供高的吞吐量,并结合的“双曝光环模式”,允许快速曝光切换。可锁定的 USB 2.0 端口可确保安全的抗震连接。
PV Inspector 增强的 NIR 灵敏度和的高速模式能够以超过每秒 1 个电池的速率进行双重曝光 EL 检测,非常适合在纵梁和电池分选机中发现的高通量 PV 检测系统。快速的双曝光成像允许在不同的偏差水平下对细胞进行定量测量。