陶瓷器的鉴定曾经度受到不可采样的限制，仅对些大型器物底部取样作些热释光的年代分析工作，些者甚至利用射线源对新烧的仿制品进行辐照处理，以期对热释光的检测造成假象，干扰测试结果的结论。自上世纪八十年代以来，大的样品室的X射线荧光光谱仪出现，瓷器的釉表面成分原位无损检测既成事实，为瓷器的真伪判别引入了种新的方法。近两年，由于河南汝窑遗址的发现，文物市场上时间汝窑瓷器泛滥，各种形制、颜色的汝窑器着实让人眼花缭乱。在使用X射线荧光光谱仪对其瓷釉表面成分进行无损分析的过程中粗略统计了下，民间收藏的待测品九成以上都是假货，其中大多数瓷釉成分中含有现代瓷釉制造的添加剂，而这些组分是宋代瓷釉中不可能出现的成分，用X射线荧光光谱仪检测此类器物可谓是轻而易举就能做出测试。我们知道绝大多数瓷釉的基本组分是由十种元素即：钠、镁、铝、硅、磷、钾、钙、钛、锰、铁的氧化物构成，不同时代、窑口烧造的瓷釉其组成成分的配比是有区别的，正因如此，我们可对大量经科学考古发掘的有确定年代和出土地点依据的参考瓷片釉层成分做出成分配比的数值分布范围，将受鉴定样品的成分配比与相应时代的参考片成分进行比对，据此判断被检样品在成分构成上的性，实践证明，当前文物市场中周转的陶瓷器文物，有半数以上成分配比与古瓷片有较大差距，另有相当部分含有古代瓷器瓷釉中所没有的组成成分，如氧化锌、氧化钡、氧化锆等现代瓷釉添加剂，对于这类赝品瓷器，通过成分检测可以非常容易的认定其属性。如仿汝瓷釉含氧化锆、氧化锌。
 

　　X射线荧光分析应用
 

　　天瑞是亚洲专业生产高性能X射线荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出更新款高性能、台式X荧光考古检测分析仪EDX 3600L型,融汇的考古检测分析技术！测试时间更短，测试结果更准，断源断代更稳！
 

　　产品名称：EDX  3600L型 考古检测X荧光光谱仪
 

　　型号：EDX  3600L
 

　　测量元素范围：从钠(Na)至铀(U)
 

　　元素含量分析范围：ppm~99.99%
 

　　分析精度：0.05%
 

　　同时分析元素：同时可以分析35种以上元素
 

　　测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005μm
 

　　测量对象状态：粉末、固体、液体
 

　　测量时间：60s~180s
 

　　管压：5KV~50KV
 

　　管流：50uA~1000uA
 

　　输入电压：AC 110V/220V
 

　　消耗功率：200W
 

　　环境温度: 10~36℃
 

　　相对湿度: ≤85%
 

　　标准配置
 

　　超薄窗大面积的美进口SDD探测器
 

　　内置信噪比增强器可提高仪器信号处理能力30倍
 

　　可自动切换型准直器和滤光片
 

　　光路增强系统
 

　　内置高清晰摄像头
 

　　加强的金属元素感度分析器
 

　　智能元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
 

　　面光源
 

　　放大电路
 

　　高低压电源
 

　　X光管
 

　　多变量非线性回归程序
 

　　相互独立的基体效应校正模型。
 

　　三重安保护模式
 

　　外观尺寸： 800×710×1360 mm。
 

　　样品腔尺寸：593(L)x546(W)x606(H)
 

　　重量：280kg
 

　　厂家介绍
 

　　是专业生产X荧光光谱仪，气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，ROHS检测仪，X射线镀层测厚仪，，ROHS测量仪，，ROHS2.0分析仪，XRF，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。