三箱冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冷热冲击试验机,温度冲击槽

TS三箱冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冷热冲击试验机,温度冲击槽

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2022-01-11 19:42:01
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产品简介

冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冷热冲击试验机,温度冲击试验槽
冷热冲击机也叫冷热冲击试验箱,用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续
环境下所能忍受的程度, 藉以在Z短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的
对象包括金属, 塑料, 橡胶, 电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考。

详细介绍

TS系列三箱冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱/高低温冲击试验箱

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
 

型 号
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积(升)80150200300
试验方式气动风门切换2温室或3温室方式
性能高温室预热温度范围+60~+200℃
升温速率※1+60→+200℃≤20分钟
低温室预冷温度范围-78-0℃
降温速率※1+20→-75℃≤80分钟
试验室温度偏差±2℃
温度范围TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃
温度恢复时间※25分钟以内
试样搁架承载能力30kg
试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg
内部尺寸(mm)W500600750850
H400500500600
D400500600800
外形尺寸(mm)※4W1460156017101880
H1840194019402040
D1500160017001900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

 

 

型 号

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

+60~+200℃

升温速率※1

+60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0℃

降温速率※1

+20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

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