SGW X-4A显微熔点仪

SGW X-4A显微熔点仪

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2022-01-11 14:10:00
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上海棱谱仪器仪表有限公司

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产品简介

SGW X-4A显微熔点仪

详细介绍

SGW X-4A显微熔点仪 商品描述

应用范围：应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

SGW X-4A显微熔点仪 技术规格

性能指标

熔点测量范围：室温至320℃

zui小读数：0.1℃

测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）

光学放大倍数：目镜10X；物境4X

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