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发光体,如白炽灯、荧光灯、LED 等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。
针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED 通常分辨率要求不高,建议使用SGM100 或短焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等分辨率要求高,建议使用长焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪;宽波长范围(UV ~ IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,需要采用SD 滤光片轮消多级光谱。
发射光谱测量系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
OmniES-扫描型发射光谱测量系统
OmniES-摄谱型发射光谱测量系统