Nanolink SZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

Nanolink SZ901的杰出性能和主要特点包括：

◆ 经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm

◆ 激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

◆ 加持自动恒温技术的zui大功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用

◆ 自研的余弦拟合法（CFLS）优于目前的频谱分析法（FFT）和位相分析法（PALS）

◆ 自研的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

◆ 自研的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C,zui高可选120°C, 精度±0.1°C

◆ 新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹¹

       ◆ 冷凝控制 – 干燥气体吹扫技术

注：* 取决于样品及样品池选件

主要技术参数