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CHY-115 红外线膜厚计CHY115
CHY -115 红外线膜厚计CHY115
产品特色:
■CE认证合格
■可侦测导磁,非导磁材料
■资料储存支援255笔
■可设定高/低警报蜂鸣的读值范围
■选择平均值,zui大值,zui小值及zui大值 - zui小值
■常用厚度量测点可使用快速一点校正
■两点校正正常操作
■背光显示
■使用者可选择微米/密尔
■自动关机功能
CHY -115红外线膜厚计CHY115
一般规格:
显示:31 / 2位数字液晶显示,zui大1999读值。
电池电压不足显示:当鏁电池电压差低于操作电压差时,
“”显示。
操作环境:0° C至40° C,相对湿度<90%RH。
避免有强度磁场的环境。
储存环境:-20° C至60° C,0至80%R.H. (电池移除后)。
精确度测试环境:23° C±5° C,相对湿度<75%RH。
自动关机:15秒。
尺寸:148毫米(高)x105mm(宽)x42mm(厚)。
CHY -115红外线膜厚计CHY115
技术资料:
范围:0至40.0mils(0至1000μm)
解析度:0.1mils/1μm
回应时间:1秒
精确度:
±(4位)在0至7.8mils
±(10位)在0至199μm
±(3%4位)在7.9mils至40mils
±(3%+10位)在200微米至1000μm