薄膜黏着剂多层次厚度的创新测量方法！！快速！准确！

100%的全面检验，以确保*的质量！

               挤压薄膜多层测厚系统

       ISIS sentronics 致力于开发研究并推广名为StraDex的一系列光学式感应器，能够测量单层/多层/涂布层/在不透光基板上的厚度，精确度可达次微米等级。

     以下为使用StraDex光学测量感应器将制作工艺达到*效果的应用说明：

    
在这个例子中是安全玻璃的薄膜层。这些薄膜是用来防止玻璃破裂导致碎玻璃飞溅或防止窃贼破窗而入。

主要测量需求是必须测量出粘着剂的厚度(第二和第四层）

粘着剂厚度的不均匀，可能会造成薄膜层不预期脱落，导致安全玻璃的功能丧失。

当前的薄膜检测法是将产品切开，将横断界面抛光后。利用显微镜去计算出每一层的厚度。

花费了大量的时间去准备测量前的工作，仅仅是为了得知薄膜层的厚度，付出的时间与获得的结果，显然不成比例。

传统的测量方式的缺点：

.必须花费大量时间在测量前的准备工作上

. 仅能够测量出单层的厚度

. 传统方式须破坏物体表面才能够进行测量

StraDex sensors 提供了更轻松简便的方式，

解决了以上传统测量遇到的问题！

以下为本产品的*优势：

.不须破坏产品，可直接进行测量

.同步测量多层的厚度

.不需花费大量时间，事先准备，仅需在*次依据产品特性，设定测量参数即可（十分钟）

.可进行测量，zui快每分钟可测量50公尺

.光学式传感器可提供具有*精确度的测量结果

.可确保制作过程中所需涂布层的厚度精确无误