TRITOP - 光学三维坐标测量系统

TRITOP - 光学三维坐标测量系统

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2023-09-25 18:30:00
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产品简介

TRITOP-光学三维坐标测量系统便携式TRITOP摄影测量系统可以快速准确地测量物体的三维坐标

详细介绍

TRITOP - 光学三维坐标测量系统

tritop

便携式 TRITOP摄影测量系统可以快速准确地测量物体的三维坐标。相对传统接触式三维坐标测量仪而言,现在可以用 TRITOP系统更轻松地展开测量工作。不需要任何复杂、沉重和精密维护的硬件,让测量仪轻松地趋近物体就行!
像接触式坐标测量仪一样,TRITOP能记录任何特征空间的坐标及其方向:
确定三维坐标以后,测量系统将会把测量结果转换到部件坐标系统中:
用于不同任务的测量数据和对齐数据:tritop软件
把实际测量数据与 CAD 数据( IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG ……)进行比较,生成用户熟悉的格式的测试报告:
应用范围

静态变形分析

TRITOP 是一套便携、易用的光学测量系统,能精确定义准静态条件下物点的三维坐标,并由此计算出各种物体和组件的三维位移及形变。
无需在物体上或物体周围安装测量头、布置电缆,从而不会与物体相互干扰,这一特点使非接触式 TRITOP 迅速取代了传统的位移传感器或 LVDT,用以捕捉位移和变形。
利用 TRITOP 测量系统,可以生成以下各类测量点参数:
这些结果可以用图表形式显示,或直接显示在 CAD 数据上或叠加显示于记录的相机图像上,从而提供直观易懂的结果报告。
应用范围

TRITOP 技术优点

应用提示
- 建议了解更多关于 TRITOP 测量系统的实际应用。
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