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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD膜厚仪
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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM膜厚仪
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菲希尔 X-RAY XDAL 237型x射线膜厚仪
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FISCHERSCOPE X-RAY XDL膜厚仪
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德国菲希尔 X-RAY XUL/XULM测厚仪
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德国菲希尔X-RAY XAN250镀层测厚仪
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德国FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列测厚仪
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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220测厚仪
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FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310镀层测厚仪
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德国菲希尔 XAN 500型X射线测厚仪
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BETASCOPE β 射线涂镀层测量（配合MMS PC2 ）
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菲希尔XAN500型便携式X射线测厚仪
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利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。
轻金属部件的测量检验
ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
连接器的测量
利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。
ZEISS CT 可视化和评估软件
