品牌
厂商性质
所在地
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置，以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘，可快速被配置，以搭配小或大零件（6英寸）。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。
l正比计数器系统
l元素范围：钛- 铀
l样品舱设计：开槽
lXY 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台
l样品尺寸：270 x 500 x 150毫米
l数量准直器：6
l滤波器：3
l小的准直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
lSmartLink 软件
