CSK-IA 试块 校准试块
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CSK-IA 试块 校准试块

参考价: ¥950~¥1600

具体成交价以合同协议为准
2023-09-27 18:21:02
14
属性:
品牌:其他品牌;
>
规格:
东岳牌;普通牌;
>
产品属性
品牌
其他品牌
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CSK-IA 试块 校准试块

参考价: ¥950~¥1600

东岳牌 1600元 999 台可售
普通牌 950元 996 台可售
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济宁儒佳检测仪器有限公司

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产品简介

CSK-IA试块斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度

详细介绍

 

 

 


CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分 辨力。


CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分 辨力。 

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