品牌
经销商厂商性质
东莞市所在地
德国OSKAR-SCHWENK mytast系列界*表
面议德国OSKAR-SCHWENK mytast系列界*表
面议
德国OSKAR-SCHWENK Centitast系列界*表
面议德国OSKAR-SCHWENK Centitast系列界*表
面议
德国OSKAR-SCHWENK SERIES 600系列界*表
面议德国OSKAR-SCHWENK SERIES 600系列界*表
面议
OSIMESS两瓣式内径测量仪
面议
德国SCHWENK RA内径测量系统
面议
锥度规
面议
日本KANON中村数显深度卡尺
面议
日本KANON中村孔距数显卡尺
面议
日本KANON中村孔距数显卡尺
面议日本TECLCOK得乐表盘式厚度测量仪
表盘式厚度表 测头：
型号 | 小刻度 | 测量范围 | 精度 | 平面度 | 表盘刻度 | 测量力 | 上测头 | 下测头 |
SM-112 | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 10 Flat | φ 10 Flat |
SM-112LS | 0.01 | 10 | ±15 | ー | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 3.2 Ball | φ 10 Flat |
SM-112LW | 0.01 | 10 | ±15 | ー | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 3.2 Ball | φ 3.2 Ball |
SM-112-3A | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 5 Flat | φ 5 Flat |
SM-112-80g | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 停止点测量力0.8N±0.05 | φ 10 Flat | φ 10 Flat |
SM-112P | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-0.5-1 | 2.5N以下 | φ 10 Flat | φ 10 Flat |
SM-112FE | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 10 Flat | φ 10 Flat |
SM-112AT | 0.01 | 10 | ±15 | 8 | 0-50-100 | 0.8N以下 | φ 10 Flat | φ 10 Flat |
SM-112D | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 10 Flat | φ 10 Flat |
表盘式厚度表 型号：
SM-112、SM-112LS、SM-112LW、SM-112-3A、SM-112-80g、SM-112P、SM-112FE、SM-112AT、SM-112D
表盘式厚度表 别名：
表盘式厚度计、手握式厚度表、厚薄表、测厚计
表盘式厚度表 产品说明：
小刻度有0.01和0.001两种。
测量厚度可达50mm
部分量表采用陶瓷测头，与工作接触面为陶瓷，可延长使用寿命。另外，还有FE（材质为加硬SK4）和AT（材质为特殊镀层）可供选择。
根据测头的形状不同，可分为标准型和其它型，
标准型的测量力不超过2.5N，同时也可选用低测量力0.4N
SM-112LW 金属圆测头，测头尺寸¢3.2mm，用于测量金属片及不规则产品
表盘式厚度表 用途：
应用广泛，可测量纸张、头发、橡胶板、金属管、珍珠等的厚度。
日本TECLCOK得乐表盘式厚度测量仪
