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小型电子元件用台式高速冲击试验机PST-300

时间:2024-06-12      阅读:15

小型电子元件用台式高速冲击试验机PST-300

 

小型电子元件台式高速冲击试验机

摆锤式冲击测试仪PST-300可以使用正弦波半波脉冲进行冲击测试,并具有针对小产品,微型设备等的高范围加速度。

特征

  • 产生的冲击冲击加速度波形为正弦半波,符合各种冲击测试方法标准的指ding波形。然后,可以在50到50000 m / s2的宽范围内施加任何冲击加速度。
  • 双减震器可在测试过程中缓冲较大的冲击力,可安装在任何地方。
  • 各种类型的样品也可以通过各自适合的支架在三个轴向上受到冲击,并且许多样品可以容易地进行测试并具有良好的可加工性。
  • 高精度重现性
  • 防撞机制

应用

  • 摆锤式冲击测试仪PST-300可以对诸如小型产品,电子和电气组件,基板和微电子设备之类的被测物体执行冲击测试。

规格

模型

PST-300

标本架固定架尺寸(mmφ)

100

z大样品质量(克)

800

冲击波形

正弦半波

冲击加速度范围(m /s²)

50-50000(5-5000G)

冲击时间范围(毫秒)

0.2 / 0.5 / 1/6/11

防撞机制

是的

控制方式

单次连续操作

连续设置数

1至9999

在自动的情况下设定次数

4位数

1个周期自动

长达15秒

机体尺寸(mm)

宽620 x深360 x高675

体重(公斤)

100

控制装置尺寸(mm)

宽380 x深250 x高220

电源

AC100V,1A

符合标准

JIS C 60068-2-27,IEC 60068-2-27,
MIL-STD-202F-80、213B,MIL-STD-750C-83、2016.2,MIL-STD-883C-83、2002.3

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