ISO16232-7中文版清洁度检测标准-清洁度测试显微分析法

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1 范围

本标准定义了用规定的光学显微镜（LM）或扫描电镜（SEM）来确定污染物微粒（从部件上萃取而沉积在薄膜过滤器的表面）的粒度和数量的方法。测量结果为薄膜过滤器上的微粒粒度分布。
若零部件的功能会应某个或某些重要的微粒而削弱时，必须对整个薄膜过滤器的表面进行全面分析。
这些分析可以手动进行，或若有合适的设备可用的话，也可以利用图像分析技术进行全自动分析。
注1 手动进行全表面计数是一项困难而累人的工作，而且容易出错。因此，如果按本标准所描述的方法来准备薄膜过滤器的话，*使用自动计数系统。
注2 计数和粒度分级的结果取决于许多参数，如显微镜的类型和模型、放大率、光源和其它设置。

2 参考标准
以下参考文件是使用本文件所*的。对于有日期的参考文件，仅所引用的版本适用；对于没有日期的参考文件，其版本（包括修正）适用。
ISO 16232-1，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第1部分：术语
ISO 16232-2，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第2部分：机械搅拌萃取污染物的方法
ISO 16232-3，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第3部分：高压冲洗萃取污染物的方法
ISO 16232-4，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第4部分：超声波技术萃取污染物的方法
ISO 16232-5，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第5部分：功能试验台萃取污染物的方法
ISO 16232-10，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第10部分：结果的表述
3 术语和定义
在ISO/DIS 16232-1中给出的术语和定义适用于本文件。
ISO/FDIS 16232-7: 2006 (E)
4 原理
根据ISO 16232-2、ISO 16232-3、ISO 16232-4和ISO 16232-5中所描述的方法，从测试部件上萃取微粒所用的所有萃取液体在薄膜过滤器上进行过滤，然后用显微技术对分离的微粒进行计数和粒度分析。微粒的粒度由微粒的zui长尺寸决定。
图1 － 微粒的zui长尺寸
光学显微镜利用微粒与薄膜过滤器表面的光对比来确定微粒粒度，这种对比主要通过调整亮度度（光线强度）而获得。利用SEM进行微粒计数的基本原理是背散射电子强度的不同而形成材料对比。
注 因为探测机制是基于不同类型的对比，所以从光学显微镜和扫描电镜所获得的计数结果没有可比性。
根据预测的污染物数量和清洁度规范中要求的相应粒度范围来选择过滤器和分析系统。

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