匝间耐压测试仪（优选）可高效的、非破坏性的对有线圈绕组的部件进行电气试验。其原理是对标准线圈绕组和被测试绕组施加相同的脉冲电压，比较两者的瞬态波形，以测试被测线圈的品质。瞬态波形也就是线圈内发生的衰减振荡的波形，他可同时判断该绕组的电感、品质因素、绕组的圈数差及匝间短路情况，在有铁芯的情况下，还可以判断其材质的差别等。

采用技术的高稳定性高压冲击电源，大幅提高了仪器测试准确度。仪器通过微型计算机技术把波形的各种参数量化处理，再用直观的波形进行显示和判断，操作简单，判断准确，自动化程度高。该仪器体积小，重量轻，便于携带。

CYJNY系列匝间耐压测试仪（优选）以MCU*信息处理系统为核心，由它控制高压脉冲发生器对线圈施加一次极短时间的高压脉冲，线圈在脉冲作用下产生自由衰减振荡,其瞬态波形的模拟信号经由CPLD可编程逻辑器件控制的高速A/D转换器转换成数字信号,然后反馈至MCU*信息处理系统进行时间、电晕量、面积、相位等参数的运算，处理结果保存在MCU信息处理系统的电子存储器中，并用直观易懂的文字、数据及图形显示在240×320点阵液晶模块LCM上，从而保证了波形重现的真实性。并且根据用户设定的条件,对合格或不合格者进行报警处理。