HXW-01正置金相显微镜

型号：LW200-2JT

描述：

具有和倒置金相显微镜同样的基本功能，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由于符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。LW300/LW200外置或内置摄相系统可以方便的连接视屏和计算机进行实时和静动态的图像观察、保存和编辑、打印结合各种软件能进行更专业的金相、测量、互动教学领域的需要。

 主要技术参数

• 镜筒：T三目，30度倾斜
• 大视野目镜：WF10Xф18mm
• 长工作距离平场物镜：PL5X， PL10X， PLL40X（S）， PL100X（oil）（S）
• 转换器：四孔
• 总放大倍数：50X-1000X
• 载物台：尺寸182mmX140mm， 移动范围 75mmX50mm
• 聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25，孔径光阑，滤色片座
• 调焦：粗微动同轴，升降范围35mm，微动格值0.002mm，带锁紧和限位装置
• 光源：反射照明卤素灯6V20W，亮度可调
• 正交偏光装置