数显介质损耗测试装置 SWY916D

SWY916D数显介质损耗测试装置 SWY916D

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2022-06-12 22:50:02
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产品简介

SWY916D 数显介质损耗测试装置与SWY2851D、SWY2852D、SWY2853D Q表及电感器配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150要求。SWY916D 介质损耗测试装置是由测微平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。SWY916D 数显介质损耗测试装置。SWY916D 数显介质损耗测试装置。SWY916D 数显介质损耗测试装置

详细介绍

SWY916D 数显介质损耗测试装置

SWY916D介质损耗测试装置与SWY2851D、SWY2852D、SWY2853D Q表及电感器配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
本测试装置是由测微平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样,由平板电容器的刻度读数变化,通过公式计算得到介电常数。

1工作特性
1.1 平板电容器:
1.1.1 极片尺寸:
SWY916D-38:Φ38mm.
SWY916D-50:Φ50mm.
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率:
≥8mm, ±0.002mm
1.2 夹具插头间距:
25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
≤2.5×10-4

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