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XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品设计精密，硬件、软件功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究，其技术水平已达到国内水平。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。
结构新，采用*的立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。
采用细分驱动电源技术，精度高，重现性达到0.0006°、测量重复性0.001°、zui小步进角度0.0005°；
进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及*使用稳定性好；
X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好，机柜外辐射剂量低于0.2μSv/h（国标规定要求低于2.5μSv/h）；
X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率*由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠；
中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包。在数据输出多样性方面作了重大改进。
配置名称 | XD2/3 | |
X射线管 （Cu靶国产） | 种类 | Cu靶，NF型（其它靶材可选） |
功率 | 2.0kW | |
焦点 | 1.0×10mm2 | |
X射线发生器 | zui大输出 | 4KW |
X光管电压 | 15~60kV，1kV /Step | |
X光管电流 | 6~80mA，1mA /Step | |
管电压、管电流稳定度 | ≤0.01％（电源低压浮动10％） | |
测角仪 | 测角仪结构 | θs－2θd(XD2) θs－θd(XD3) |
测角仪扫描半径 | 180mm | |
扫描角度范围 | -30~80°（θs） -30～160°（θd） | |
工作方式 | 连续扫描、定时步进扫描、定数步进扫描 | |
连续扫描速度 | 0.125～120°/min | |
zui高转速 | 120°/min | |
2θ角重复精度 | ≤0.0006° | |
zui小步进角度 | 0.0005° | |
测量准确度 | ≤0.001° | |
发散狭缝（DS） | 1/6°、1/2°、1°、2° | |
防散射狭缝(SS) | 1/2°、1°、2° | |
接收狭缝(RS) | 0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm | |
调整狭缝 | 0.02mm | |
检测器 计数器 | 晶体类型 | NaI |
脉冲幅度分析器（HV/PHA） | 输出高压0～1000V，稳定性≤0.01％（8h） | |
机柜 | 机柜尺寸（mm） | 1200（长）×400（宽）×1850（高） |
整机重量（kg） | 500 | |
观察窗（mm） | 600（高）×400（宽）×10（厚）铅玻璃 | |
X射线泄露量 | ≤0.1μSv/h（未扣除天然本底） | |
安全措施 | 门联锁保护（门到位置，光闸才打开，产生X射线） | |
滤波器 | Ni滤片 | 对应Cu靶 |
石墨弯晶单色器 | 反射效率η≥28％ | |
综合指标 | 整机综合稳定度 | ≤0.3％ |
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