1. 产品介绍
　　该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

2. 主要技术指标
　　（1） UV365 探头：
　　λ：320~400 nm; λp=365 nm
　　（2） UV420 探头：
　　λ：320~500 nm; λp=420 nm
　　＊辐照度测量范围：
　　0.1~1.999×10^5 μw/cm2
　　＊紫外带外区杂光：
　　UV365: 小于0.02%；
　　UV420: 小于0.02%
　　＊余弦特性：符合二级光照度计标准
　　＊准确度： ±5% （相对于标准）
　　＊响应时间：1秒
　　＊使用环境：温度20±20℃；湿度 ＜85%
　　＊尺寸和重量：180×80×36mm3; 0.2kg